Multi-demodulation phase-shifting and intensity pattern projection profilometry
¿De qué se trata? English
El método de corrimiento de fase es una herramienta potente para la reconstrucción de objetos tridimensionales usando proyección de franjes. Sin embargo, este método requiere muchos patrones de franjas, dificultando su utilidad para realizar mediciones rápidas. La principal característica del método de corrimiento de fase es el uso de patrones de franjas, que codifican un único mapa de fase. En este artículo, se propone el uso de patrones de intensidad, que pueden codificar múltiples mapas de fase. Este enfoque es el punto de partida para el desarrollo de perfilometría por proyección de patrones de intensidad.
¿Por qué es importante?
En este artículo se realizan dos contribuciones:
- un algoritmo de múltiple demodulación por corrimiento de fase, y
- la técnica de perfilometría por proyección de patrones de intensidad.
Perspectivas
De acuerdo con los resultados obtenidos, el enfoque propuesto es una alternativa prometedora para incrementar la eficiencia de sistemas ópticos de reconstrucción de objetos tridimensionales basados en corrimiento de fase.