| Título | Estimación de transformaciones proyectivas por ajuste multidimensional para sistemas de proyección de luz estructurada (2018-2022) |
| Autor | Obed Isaí Ríos Orellana, Doctorado en Ciencias en Sistemas Digitales, Instituto Politécnico Nacional. |
| Asesores | Rigoberto Juarez-Salazar y Victor H. Diaz-Ramirez. |
| Citation | Obed Isaí Ríos Orellana, “Estimación de transformaciones proyectivas por ajuste multidimensional para sistemas de proyección de luz estructurada,” PhD Thesis, Centro de Investigación y Desarrollo de Tecnología Digital, Instituto Politécnico Nacional, Baja California, Mexico, (2022). |
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Resumen
En la perfilometría de proyección de franjas requiere calibrar tanto las cámaras como los proyectores para mediciones métricas. Las cámaras son relativamente simples de calibrar, pero los proyectores requieren procedimientos más sofisticados. En este trabajo de investigación se desarrolla un perfilómetro de proyección de franjas con dos cámaras calibradas y un proyector no calibrado para mediciones métricas. Para realizar un funcionamiento exitoso del perfilómetro, se ha diseñado un nuevo método de rectificación que minimiza la distorsión por perspectiva. Además, por medio de un método simple se encuentran puntos de correspondencia utilizando los mapas de fase estéreo rectificados.
En el presente trabajo, se introducen los principios de la perfilometría métrica utilizando el método de rectificación propuesto. El sistema desarrollado se evalúa experimentalmente mediante la medición métrica de objetos tridimensionales. Los resultados obtenidos confirman una alta precisión de medida métrica y versatilidad en el diseño de perfilómetros de proyección de franjas con proyectores no calibrados.
Palabras clave: Homografía, distorsión proyectiva, rectificación estéreo, proyección de franjas, perfilometría.
Contribuciones
Rigoberto Juarez-Salazar, Obed I. Rios-Orellana, and Victor H. Diaz-Ramirez, “Stereo-phase rectification for metric profilometry with two calibrated cameras and one uncalibrated projector,” Applied Optics, Vol. 61(21), pp. 6097-6109, 2022.