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Rigoberto Juarez-Salazar, Fabio Vega, Sofia Esquivel-Hernandez, Victor H. Diaz-Ramirez, and Andres G. Marrugo, “Phase feedback fringe projection profilometry for shiny objects” Optics and Lasers in Engineering, Vol. 191, pp. 109013 (2025).
DOI: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2025.109013 |
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¿De qué se trata? English
Perfilometría por proyección de franjas es efectivo en la reconstrucción de objectos 3D opacos, pero encuentra dificultades cuando el objeto es brillante. La principal dificultad en capturar objetos brillantes es que éstos reflejan la luz del proyector provocando saturación del sensor de la cámara. En este artículo, se propone un método de proyección de franjas adaptativo que ajusta dinámicamente la intensidad de cada pixel del proyector para evitar saturar la cámara. Este método aprovecha la recursividad de la técnica de proyección de franjas multi-frecuencia jerárquica para modificar la intensidad de los pixeles del proyector mediante un lazo de retroalimentación de fase. Este método elimina la necesidad de caracterizar previamente la reflectividad del objeto bajo prueba.
¿Por qué es importante?
Aplicaciones modernas requieren perfilómetros ópticos con capacidad de reconstruir objetos brillantes tales como artículos de plástico, monedas, mecanismos metálicos, aspas de aerogeneradores, vajillas de porcelana, y piezas dentales. Este artículo propone un método que mejora el desempeño de los perfilómetros de proyección de franjas para reconstruir objetos brillantes.
Perspectivas
El método propuesto aprovecha la recursividad de la técnica de proyección de franjas multi-frecuencia jerárquica. La fase obtenida en cada frecuencia es empleada para ajustar la intensidad del proyector en las frecuencias subsecuentes. Este enfoque establece los fundamentos para futuras investigaciones en la mejora de las capacidades de los perfilómetros de proyección de franjas.